PRODUCT CLASSIFICATION
產品分類技術文章/ Technical Articles
特征強調Basic性能的Basic模型最小水分含量顯示0.01%，重量顯示5mg使用自動去皮減少漂移兩種類型的測量模式：自動和定時規格測量方法通過加熱和干燥檢測重量損失樣品質量1-80g（可選重量采樣格式）分辨率水分含量/固體含量：0.1%或0.01%（可選）0.01%的指示不保證精度。重量：0.005g測量范圍0-100%（濕基，固含量）0-500%（干基）重復性（標準偏差）重量為5g或以上的樣品，0.1%（使用標準樣品和KettElectricLaboratory確定的測...
防冷劑千分尺MDC-PXIP65防護等級標準價格（不含稅）：21,300日元測量范圍（mm）：0~25*小顯示量（mm）：0.001*有關產品的*庫存狀況和交貨日期，請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系。*商品圖片僅用于說明目的。可能與實際產品有所不同。請務必查看產品詳細信息的規格。恒壓裝置：棘輪止動裝置產品型號293-240-30MDC-25PX系列測量范圍（mm）：0～25*小顯示量（mm）：0.001293-241-30MDC-50PX系列測量范圍（mm）：25～50*小...
防冷卻液千分尺MDC-125~300MXIP65防護等級標準價格（不含稅）：42,000日元測量范圍（mm）：100~125最小顯示量（mm）：0.001*有關產品的最新庫存狀況和交貨日期，請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系。*商品圖片僅用于說明目的。可能與實際產品有所不同。請務必查看產品詳細信息的規格。恒壓裝置：棘輪止動裝置帶測量數據輸出功能產品型號293-250-30MDC-125MX測定範囲(mm):100～125最小顯示量（mm）：0.001293-251-30MDC...
TXRF310Fab系列全內反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內即可實現相同的精度，從而實現高通量。詢價詢問有關產品的問題=thumbnailOffset&&index總結長處規范事件描述TXRF310Fab1個靶標、3個光束系統這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束...
TXRF3760系列全內反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內即可實現相同的精度，從而實現高通量。詢價詢問有關產品的問題=thumbnailOffset&&index總結長處規范事件TXRF3760概述1個靶標、3個光束系統這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束，并將其...
WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以無損、非接觸地同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。它與GEM300兼容，并支持300mmFab的在線規格。XYθZ驅動式樣品臺（方法）可準確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測量痕量元素。此外，通過安裝...
晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。XYθZ驅動式樣品臺（方法）可準確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可對超輕元素進行高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素測量和硼分析。它還與C-to-C傳輸機器人（可選）兼容。它配備了AutoCal（全自動日常檢查和強度...
AZX400用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀將Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一個單元中，這些元素是重要的半導體材料波長色散X射線熒光（WDX）光譜儀的**模型WDX具有高信噪比和高分辨率，使用可實現比能量色散X射線熒光（EDX）儀器更準確的分析。高功率X射線管和專用于超輕元素的光譜晶體可實現超輕元素測量，例如B、C、N和O，這是EDX無法實現的。此外，由于Si的影響，難以用EDX分析的Al超薄膜可以通過高分辨率的WDX清晰分離。=thumbnailOffset...
高精度CNC三坐標測量機STRATO系列初項高達1μm以內高精度下，實現高速、高加速度驅動的高速掃描。產品特點與優勢STRATO-Apex系列是高精度CNC三坐標測量機，該系列通過優化本體結構、導軌構造等達到高剛性，使設備在擁有高精度的同時，更實現了高速、高加速度驅動。●STRATO-Apex系列檢測各軸位置的標尺搭載了與LEGEX系列同等級別的高精度標尺（自社研發），具有很高的檢測功能和超高精度控制功能，通過其他高速控制程序等技術實現高精度·高速度測量。●標配溫度實時補償功...
CRYSTA-ApexV標準CNC型三坐標測量機產品特點與優勢CRYSTA-ApexV系列是追求高精度、高速度、多樣性的新一代CNC三坐標測量機，為實現利用IoT深度生產管理和品質管理信息的智能工廠提供強力支持。CRYSTA-ApexV系列采用彰顯先進性和創造性的煥新設計，提供可應對小型到大型工件測量的豐富產品陣容。CRYSTA-ApexV系列可以確定3D形狀的測量路徑，以自由的測量路徑來測量曲面、輪廓等復雜形狀的工件。另外，通過實時修正工件和公稱值的偏差引起的軌跡誤差，可實...
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